俄歇電子能譜

（簡稱AES），是一種表面科學和材料科學的分析技術(shù)。因此技術(shù)主要借由俄歇效應(yīng)進行分析而命名之。這種效應(yīng)系產(chǎn)生于受激發(fā)的原子的外層電子跳至低能階所放出的能量被其他外層電子吸收而使后者逃脫離開原子，這一連串事件稱為俄歇效應(yīng)，而逃脫出來的電子稱為俄歇電子。俄歇能譜儀包括電子光學系統(tǒng)、電子能量分析器、樣品安放系統(tǒng)、離子槍、超高真空系統(tǒng)。