掃描聲學(xué)顯微鏡
是一種多功能、高分辨率的顯微成像儀器。兼具電子顯微術(shù)高分辨率和聲學(xué)顯微術(shù)非破壞性內(nèi)部成像的特點。 被廣泛的應(yīng)用在物料檢測（IQC）、失效分析（FA）、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域，可以檢測材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu)、雜質(zhì)顆粒、內(nèi)部裂紋、分層缺陷、空洞、氣泡、空隙等，為司法鑒定提供客觀公正的微觀依據(jù)。
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掃描聲學(xué)顯微鏡產(chǎn)品列表
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原子力聲學(xué)顯微鏡AFAM
- 品牌：NT-MDT
- 型號：原子力聲學(xué)顯微鏡AFAM
- 產(chǎn)地：歐洲 俄羅斯
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供應(yīng)商報價
面議 -
原子力聲學(xué)顯微鏡AFAM
- 品牌：NT-MDT
- 型號：Ntegra AFAM
- 產(chǎn)地：歐洲 俄羅斯
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- 掃描聲學(xué)顯微鏡
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