DAGE XD7500VR Jade Plus X光檢查機

檢驗產品品質

DAGE XD7500VR Jade Plus X光檢查機可快速完成生產PCB檢測，Quadra 5和7具有出色的放大倍率和功率，可用于PCB、封裝和晶圓級檢測以及故障分析。

Jade Plus采用開放式X射線管，鎢絲可更換，蕞高在3 W功率下可達1μm特征分辨率。

測量

Jade Plus可以獨特地檢測您的產品品質。內置尺寸測量工具、BGA空洞分析、凸點直徑和圓度以及通孔填充，可快速查找并表征缺陷

0.95μm解析度決定了是否能在無源元件中發(fā)現(xiàn)微裂紋。Jade Plus的解析度足以在微型BGA球內進行精確的空洞分析。

規(guī)格參數(shù)

X射線燈管：    開放式透射管

特征分辨率：   0.95 μm

靶功率：         3 W

電壓：            30 - 160 kV

探測器：         AspireFP?平板探測器

分辨率：         1.4 MP

幀率：            10 fps

數(shù)字圖像處理:  16 bit

安裝            

軟件:               基于Windows 10的Gensys? X射線檢測軟件

操作:               鼠標指向并單擊（操縱桿可選）

斜角視圖:         2 × 60° - 無需旋轉樣品

檢測區(qū):            510 x 445 mm (20 x 17.5”)

放大倍率:         高達7500倍

顯示器:            單24” WUXGA

設備

尺寸（寬x深x高）：1.57 x 1.57 x 1.9 m

重量：                   1,950 kg (4,300 lbs)

氣源：                   無要求

X射線安全性：       < 1 μSv/小時