１．概述

1.1 簡介

TY-ABR-1000 裝置，在本公司制造的自動雙折射測量裝置（TY-ABR-1000 系列）的基礎上增設了應力載荷裝置，由此可以測量到高精度的光彈性常數(shù)。測量方法是，采用配置的拉伸/壓縮試驗機，對樣品施加載荷的同時測量光彈性常數(shù)。

雙折射測量的方式，由于采用光學外差法的普通光路干涉儀，及通過Fourier分析法進行數(shù)據(jù)處理的方式， 其特點是速度快，精度高，并不受振動及空氣流動等外界干擾。干涉儀采用波長為633 nm的頻率穩(wěn)定的橫向Zeeman激光器（輸出2 mW）作為光源，盡量減少設備構成中的光學部件，實現(xiàn)了長期使用過程中，基本上無需維護的構造。

１．２ 特點

◎測量時間 3秒以下/測量點 

◎解析度 雙折射相位差：0.01nm  

                   主軸方位角：0.1deg.

◎精度 應力松弛可控制到最小化

◎負載量 量程0～50N  最小讀數(shù)0.01N

                  （收費選項：添加可切換式量程）  

◎測量位置確認 可通過目測來確認測量位置

◎操作簡單 根據(jù)菜單指示用鼠標進行簡單操作 

◎最適合用于研究及質量管理

１．３ 雙折射測量原理

本設備使用由兩個線性偏振光分量（f1，f2）組成的穩(wěn)頻激光器（STZL），兩個線性偏振光分量的光頻 率略有不同并且彼此正交。 該雙頻光被斜角分離器分成兩個光路，并且每個均被線性偏振器混合成外差。由光電二極管進行光電轉換的拍頻信號（fb = f1-f2）為幾百kHz，可以通過示波器或電相位計讀取。 

以此方式，樣品的光學相位差（δ）被轉換為拍頻信號的相位差（δ），并且可以容易地被測量。如圖所示，通過使半波片和線性偏振片同步旋轉來獲得樣品的主軸方向（φ）。

○ 相位差：Rｅ

Rｅ=(λ／２π)δ=(ｎＳ－ｎＦ)d   

?λ ：光源波長

?δ ：實測相位差   

?ｎＳ,ｎＦ ：主折射率

?ｄ      ：樣品厚度 

○ 主軸方位角：φ 

１．４ 主要規(guī)格

１．４．１ 光彈性常數(shù)的測量性能及規(guī)格性能

規(guī)格

１．４．２ 雙折射測量性能及規(guī)格性能

規(guī)格

１．４．3 裝置外形

光彈性測量裝置 型號TY-ABR-1000

１．５ 測量例

１．５．１ 光彈性常數(shù)測量

光彈性常數(shù)TAC（三乙酰纖維素）薄膜  

歪失真量VS相位差TAC（三乙酰纖維素）薄膜

2. 交貨條件 

2.1 貨期 

一般情況下在接受正式訂單 6 個月后出廠交貨。但是，在發(fā)生意外的情況時，將經(jīng)協(xié)商另行決定。出口/運輸時間另行協(xié)商。 

2.2 交接條件 

    在本產(chǎn)品規(guī)格書中所示的范圍內(nèi)進行調(diào)整并交付。

2.3 驗收 

    在貴公司負責人的監(jiān)督下進行試運行，以滿足下列條件視為驗收結束。(1)本裝置滿足產(chǎn)品規(guī)格書中所記載的功能。

(2) 本裝置能夠正常運行。

(3) 可以滿足貴公司的驗收條件。 

2.4 質量保證 

本裝置驗收后一年之內(nèi)，如明顯屬于本公司職責范圍內(nèi)的產(chǎn)品不良而產(chǎn)生的故障或不良，本公司將提供免費修理或更換。

2.5 使用條件 

請按照本產(chǎn)品規(guī)格書以及操作指南中的說明使用本裝置。如不遵守本產(chǎn)品規(guī)格書以及操作指南的要求而進行操作時，恕不提供質量保證。