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超快時(shí)間分辨光譜測試系統(tǒng)

品牌：北京卓立漢光
型號(hào)：超快時(shí)間分辨光譜測試系統(tǒng)
產(chǎn)地：北京通州區(qū)
供應(yīng)商報(bào)價(jià)：面議

北京先鋒泰坦科技有限公司更新時(shí)間：2025-06-05 13:54:53

銷售范圍售全國

入駐年限第10年

營業(yè)執(zhí)照已審核

同類產(chǎn)品光柵光譜儀(17件)

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產(chǎn)品特點(diǎn)

一套用于皮秒時(shí)間分辨的超快熒光測試系統(tǒng)解決方案，為您提供ps-ns-us 量級的超快熒光壽命或超快等離子體衍化過程的快速測量。

詳細(xì)介紹

系統(tǒng)主要功能指標(biāo)：

寬光譜測量范圍：UV-VIS-NIR, 200-900nm;
高系統(tǒng)時(shí)間分辨率： <=5ps
壽命衰減測量時(shí)間范圍：<=50ps—100us
高系統(tǒng)光譜分辨率： <0.1nm
寬單次成譜范圍： >=200nm
靜態(tài)（穩(wěn)態(tài)）光譜采集，
瞬態(tài)時(shí)間分辨光譜圖像及熒光壽命曲線
系統(tǒng)集成整體控制及數(shù)據(jù)處理軟件

超快時(shí)間分辨光譜系統(tǒng) 是由光譜儀、超快探測器、耦合光路、系統(tǒng)控制及數(shù)據(jù)處理軟件組成。光譜儀對入射光信號(hào)進(jìn)行分光，分光光譜耦合到超快探測器,入射光由透鏡聚焦在陰極上，激發(fā)出的光電子通過陽極加速，入射到偏轉(zhuǎn)場中的電極間，此時(shí)電壓加在偏轉(zhuǎn)電極上，光電子被電場偏轉(zhuǎn)，激射熒光屏，以光信號(hào)的形式成像在熒光屏上。轉(zhuǎn)換后的光信號(hào)還可以再通過圖像增強(qiáng)器進(jìn)行能量放大，并在圖像增強(qiáng)器的熒光屏上成像。最后通過制冷相機(jī)采集熒光屏上信號(hào)。因?yàn)殡娮拥钠D(zhuǎn)與其承受的偏轉(zhuǎn)電場成正比，因此，通過電極的時(shí)間差就可以作為熒光屏上條紋成像的位置差被記錄下來，也就是將入射光的時(shí)間軸轉(zhuǎn)換成了熒光屏空間軸。系統(tǒng)控制軟件用于整個(gè)系統(tǒng)的參數(shù)設(shè)置、功能切換、數(shù)據(jù)采集等，圖像工作站用于采集數(shù)據(jù)處理分析

主要應(yīng)用方向

超快化學(xué)發(fā)光
超快物理發(fā)光
超快放電過程
超快閃爍體發(fā)光
時(shí)間分辨熒光光譜，熒光壽命，
半導(dǎo)體材料時(shí)間分辨PL譜
鈣鈦礦材料時(shí)間分辨PL譜

瞬態(tài)吸收譜，時(shí)間分辨拉曼光譜測量
光通訊，量子器件的響應(yīng)測量
自由電子激光，超短激光技術(shù)
各種等離子體發(fā)光
湯姆遜散射，激光雷達(dá)
。。。。。。

光譜儀建議選型參數(shù)列表

光譜儀型號(hào)	Omni-λ2002i		Omni-λ3004i		Omni-λ5004i		Omni-λ7504i
光譜儀焦距	200mm		320mm		500mm		750mm
相對孔徑	F/3.5		F/4.2		F/6.5		F/9.7
光譜分辨率（1200l/mm）	0.3nm		0.1nm		0.08nm		0.05nm
波長準(zhǔn)確度	+/-0.2nm		+/-0.2nm		+/-0.15nm		+/-0.1nm
倒線色散(1200l/mm)	3.6nm/mm		2.3nm/mm		1.7nm/mm		1.1nm/mm
光柵尺寸	50*50mm		68*68mm		68*68mm		68*68mm
光柵臺(tái)	雙光柵		三光柵		三光柵		三光柵
與探測器耦合	中繼光路1:1耦合，配合二維焦面精密調(diào)節(jié)一體化底板
系統(tǒng)光譜分辨率(1200l/mm)	<=0.3nm	<=0.2nm		<=0.1nm		<0.08nm
一次攝譜范圍(150 l/mm)	>230nm	>150nm		>90nm		>60nm
光譜儀入口選項(xiàng)	光纖及光纖接口，標(biāo)準(zhǔn)熒光樣品室，鏡頭收集耦合，共聚焦顯微收集耦合等

多系統(tǒng)靈活組合

超快時(shí)間分辨光譜測試系統(tǒng)既可以與飛秒超快光源配合完成獨(dú)立的光譜測試，也可以與卓立漢光的其他系統(tǒng)比如 TCSPC, RTS&FLIM顯微熒光壽命成像系統(tǒng),TAM900寬場瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)，以及低溫制冷室，飛秒&皮秒激光器等配合完成更為復(fù)雜全面的超快測試。