產(chǎn)品介紹：

在過(guò)去的四十多年中，麥克公司的 SediGraph 是全 球眾多實(shí)驗(yàn)室粒度分析的標(biāo)準(zhǔn)儀器。無(wú)論是在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境中還是在實(shí)驗(yàn)室里，SediGraph 憑借其優(yōu)越的性能，能夠獲得可靠精確的測(cè)量結(jié)果。該儀器采用X-光沉降法測(cè)量粒徑分布，通過(guò)檢測(cè)樣品對(duì)X射線的吸收直接測(cè)量顆粒質(zhì)量。SediGraph 根據(jù)斯托克斯定律，通過(guò)測(cè)量顆粒在已知性質(zhì)液體中的沉降速率，能夠得出粒徑范圍在0.1μm-300μm間樣品顆粒的等效球徑。

新一代的 SediGraph III Plus 粒度分析儀結(jié)合了經(jīng)典的和改進(jìn)的顆粒分析技術(shù)，能夠提供具備更高重復(fù)性和精確度的顆粒粒徑信息，并且進(jìn)一步加快了測(cè)試速度，在幾分鐘內(nèi)即可完成測(cè)試。