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產(chǎn)品中心

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晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)XRD

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產(chǎn)品特點(diǎn)

晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)用于全自動(dòng)分揀、晶體取向、optical notch and flat determination測(cè)定等。Si | SiC | AlN | 藍(lán)寶石(Al2O3) | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其他100多種材料。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹:

晶圓XRD的特點(diǎn)

◇  完全自動(dòng)化的晶圓處理和分類系統(tǒng)(例如:盒到盒)。

◇  晶體取向和電阻率測(cè)量 

◇  晶片的幾何特征(缺口位置、缺口深度、缺口開口角度、直徑、平面位置和平面長(zhǎng)度)的光學(xué)測(cè)定 

◇  未拋光的晶圓和鏡面的距離測(cè)量 

◇  MES和/或SECS/GEM接口


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獨(dú)特的Omega-scan方法:

◇  高的精度 

◇  測(cè)量速度: < 5秒/樣品 

◇  易于集成到工藝線中 

◇  典型的標(biāo)準(zhǔn)偏差傾斜度(例如:Si 100):   < 0.003 °,小于< 0.001 °。

 

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全自動(dòng)化的晶圓分揀和處理系統(tǒng)



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