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CAMECA 場發(fā)射電子探針 SXFiveFE

品牌：Cameca
型號(hào)： SXFiveFE
產(chǎn)地：歐洲法國
供應(yīng)商報(bào)價(jià)：面議

法國cameca公司

銷售范圍售全國

入駐年限第10年

營業(yè)執(zhí)照

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詳細(xì)介紹

Cameca EPMA歷史悠久
電子探針微區(qū)分析(EPMA)的歷史和CAMECA緊緊相連。作為在1950年代開創(chuàng)此技術(shù)的先驅(qū)，CAMECA公司研發(fā)、推廣并支持了若干代EPMA儀器。今天，全世界有超過700臺(tái)CAMECA的電子探針在運(yùn)行，在地球化學(xué)、礦物學(xué)、地質(zhì)年代學(xué)、物理及核冶金、材料科學(xué)（包括水泥、玻璃、陶瓷、超導(dǎo)體）、生物化學(xué)、微電子學(xué)等領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)高精度的定性與定量化學(xué)微區(qū)分析。

超級(jí)的分析性能
通過提供更高、更穩(wěn)定的束電流，以及比其他現(xiàn)有儀器（如SEM-EDS）更好的信號(hào)峰背景比，基于WDS的CAMECA電子探針是**實(shí)現(xiàn)主量和痕量元素精確定量分析的儀器。
現(xiàn)在，場發(fā)射源的引入，優(yōu)化了低電壓和高電流，在微區(qū)定量分析中，可實(shí)現(xiàn)最小的激活體積和盡可能高的空間分辨率。

擁有場發(fā)射源的超級(jí)分析平臺(tái)

SXFive和SXFiveFE的新特色

場發(fā)射源或W/LaB6源
新電子光學(xué)系統(tǒng)提供了更高的分辨率
優(yōu)化的真空系統(tǒng)提供更優(yōu)的檢出能力，對(duì)于輕元素有重要意義
環(huán)形的法拉第杯帶來增強(qiáng)的可靠性
自動(dòng)化程度更高，更大產(chǎn)率
從W/LaB6源升級(jí)為場發(fā)射源可在現(xiàn)場完成

SXFive和SXFiveFE帶來了CAMECA早期的電子探針顯微分析儀所有優(yōu)勢，同時(shí)提供了duyi無二的場發(fā)射電子束和CAMECA業(yè)界領(lǐng)xian的高靈敏度和高分辨率的譜儀的結(jié)合。這種duyi無二的組合代表了在微區(qū)分析上的重大突破。

這些特色，以及可靠性的改善，和重新設(shè)計(jì)的電子束，集大成于一個(gè)多功能顯微分析儀，可提供無與倫比的顯微定量和超高空間分辨率的X射線成像能力。

滿足您需求的兩種儀器配置：

SXFive 配置多功能W/LaB6源

SXFive配置有多功能電子槍，可使用高功率（最高30KV）的鎢燈絲或一個(gè)LaB6陰極可得到更好的橫向分辨率。歸功于電子槍中高達(dá)10^-6Pa的真空度，這款儀器可以在W和LaB6燈絲之間在數(shù)小時(shí)內(nèi)方便快捷地進(jìn)行切換。

在10kv，100nA的實(shí)驗(yàn)條件下，使用SXFive的LaB6陰極，可得到0.5um的分析分辨率，使在微小的區(qū)域內(nèi)測量含量小于0.01%的痕量元素成為可能，并能得到良好的統(tǒng)計(jì)精度。

SXFive可升級(jí)為SXFive FE

SXFive FE 配置場發(fā)射源

對(duì)于要求超高分辨率的應(yīng)用，CAMECA開發(fā)了場發(fā)射源：

提高了橫向分辨率
對(duì)于痕量元素的分析應(yīng)用，保持高電流。

歸功于其場發(fā)射源，SXFive FE在中等加速電壓下允許使用小尺寸探頭，從而保證高橫向分辨率。在10KV，100nA條件下，可獲得150nm直徑的電子束，確保高質(zhì)量的微量和痕量元素分析。和常規(guī)EPMA一樣，高能量和高束電流也可被選擇，用于進(jìn)行定量分析。

**的WDS
波長色散光譜被認(rèn)為是高精度定量分析的方法，基于CAMECA的獨(dú)特設(shè)計(jì)，SXFive和SXFiveFE的譜儀具有業(yè)內(nèi)最高的分辨率，因此具有高信號(hào)峰背景比，從而提供了高靈敏度。的譜峰位置由依附于系統(tǒng)的光學(xué)編碼器提供，只需要單峰便可對(duì)整個(gè)譜儀范圍進(jìn)行校準(zhǔn)。

根據(jù)應(yīng)用的不同，最多可裝5個(gè)WDS譜儀（另加一個(gè)EDS譜儀）可配置在儀器上。所有的譜儀有一個(gè)160mm的羅蘭圓，電子束分離窗和差分抽氣保證了譜儀和衍射晶體不受試樣艙樣品帶來的任何污染。

由于CAMECA波譜儀的獨(dú)特設(shè)計(jì)，15秒內(nèi)即可掃描完整個(gè)譜儀。

安裝在一個(gè)40⁰的角度，WDS譜儀是線性的和全聚焦的。譜儀的機(jī)件優(yōu)化為最少的移動(dòng)部件（非輪帶驅(qū)動(dòng)機(jī)械），從而保證了首屈yi指的重復(fù)性和可靠性。

經(jīng)過在工廠的預(yù)校準(zhǔn)，CAMECA波譜不需要日常的維護(hù)和重新調(diào)諧。

高強(qiáng)度的晶體

CAMECA提供各種類型的晶體，覆蓋元素周期表上從Be開始的元素。

大晶體、寬的波譜儀范圍、高信號(hào)峰背景比實(shí)現(xiàn)快速的WDS分析

現(xiàn)在，為實(shí)現(xiàn)超高靈敏度的B和N分析的特殊的大晶體已由CAMECA開發(fā)出來，并可配置在SXFive和SXFiveFE上；對(duì)于輕元素（Be到F），可選用多層晶體。

CAMECA的譜儀可垂直，也可傾斜安裝在儀器上。

傾斜安裝（CAMECA的獨(dú)有設(shè)計(jì)）特別適用于表面粗糙的標(biāo)本分析或映射；也非常適合于峰移研究。

WDS和EDS同時(shí)數(shù)據(jù)采集
SXFive可以配置一個(gè)能譜用于快速礦產(chǎn)/相鑒別，或配置波譜儀用于定量和成像模式。

如果配置EDS/WDS可實(shí)現(xiàn)高通量產(chǎn)率，如用EDS測得主量元素，用WDS測得痕量元素。