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二次離子質(zhì)譜工作站

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為您推薦

產(chǎn)品特點

整合的離子源,便于RGA和SNMS;
各類型樣品的快速轉(zhuǎn)向;
陰、陽離子、中性粒子、自由基的質(zhì)量、能量分析儀。

詳細介紹

產(chǎn)品簡介

SIMS 工作站(SIMS Workstation-a complete SIMS Analysis Facility) ,綜合UHV / SIMS 設(shè)備,進行高級的表面分析。可靠的、普遍適用的SIMS分析工作站。

功能特點

整合的離子槍光柵控制和信號選通,進行深度分析

絕緣體研究中的電子流槍用于電荷中和
液氮冷井和真空室烘烤加熱器
自動的SIMS 離子光學透鏡調(diào)諧和質(zhì)量數(shù)列表,使SIMS性能**


技術(shù)參數(shù)

Hiden EQS SIMS 分析儀,運行于 MASsoft O/S 之下,檢測限至ppb級

?基本的激發(fā)源選擇: 帶差式泵的Hiden IG20 Ion,IFG200 FAB或高性能液態(tài)鎵槍
快速樣品傳遞,樣品固定,負載鎖定的操縱器
4 軸:X, Y, Z, θ UHV 操縱器,以**定位樣品
加上ESM LabVIEW和SIMS 成像程序,進行SIMS元素成像
靜態(tài)SIMS譜圖庫可用


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