瑞典XCounter 雙能探測(cè)器

產(chǎn)品描述：PDT25-DE
緊湊型、直接數(shù)字轉(zhuǎn)換、雙能采集、光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器，用于數(shù)字X射線成像系統(tǒng)，基于新型強(qiáng)大的CdTe-CMOS傳感器平臺(tái)研發(fā)而成，PDT25-DE是一個(gè)小視場(chǎng)探測(cè)器，適用于潛在寬泛的能量范圍。
 
PDT25-DE可以基于幀率成像，也可以采用時(shí)間延遲總和（TDS）模式。
 
引進(jìn)反符合技術(shù)的雙能采集功能，是PDT25-DE先進(jìn)之處，在雙能采集過(guò)程中，探測(cè)到的光子能量分別設(shè)置為兩個(gè)獨(dú)立的閾值，并分別讀出，兩個(gè)能量設(shè)置可以用來(lái)區(qū)分材料，為醫(yī)療和工業(yè)新成像技術(shù)開(kāi)啟了大門(mén)。采用反符合技術(shù)，可以確保將每一個(gè)光子信號(hào)分布在正確的像素點(diǎn)上，以獲取更高的能量分辨率。
 
集成
通過(guò)高速率USB接口將PDT25-DE連接到計(jì)算機(jī)上，自帶靈活的軟件開(kāi)發(fā)包，可控制所有PDT25-DE的功能；可用在Windows XP、Vista 、Windows7和Windows8系統(tǒng)平臺(tái)上。
 
應(yīng)用
*小范圍輻照  
*小動(dòng)物成像 
*實(shí)驗(yàn)室樣品和標(biāo)本成像 
*反向散射成像  
*工業(yè)檢測(cè)（NDT）
 
特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)
*CdTe-CMOS傳感器，高品質(zhì)成像
*雙能采集，具有材料區(qū)分能力
*反符合技術(shù)，卓越的能量分辨率
*可基于幀率成像，也可以選擇時(shí)間延遲總和（TDS）模式
*兼容Windows操作系統(tǒng)，從XP到Windows8
*綁定強(qiáng)大的可編程的開(kāi)發(fā)軟件
 
技術(shù)參數(shù)