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飛納清潔度分析 ParticleX TC

品牌：飛納電鏡
型號(hào)： ParticleX TC
產(chǎn)地：歐洲荷蘭
供應(yīng)商報(bào)價(jià)：面議

復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司更新時(shí)間：2025-06-12 14:41:43

銷售范圍售全國

入駐年限第7年

營業(yè)執(zhí)照已審核

同類產(chǎn)品掃描電鏡(16件)

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產(chǎn)品特點(diǎn)

飛納 Phenom ParticleX 全自動(dòng)清潔度分析系統(tǒng) 以臺(tái)式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ)，可以全自動(dòng)對顆粒或雜質(zhì)進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類統(tǒng)計(jì)，為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。

詳細(xì)介紹

Phenom ParticleX TC

飛納 Phenom ParticleX 全自動(dòng)清潔度分析系統(tǒng) 以臺(tái)式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ)，可以全自動(dòng)對顆?；螂s質(zhì)進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類統(tǒng)計(jì)，為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。該過程完全符合 ISO 16232 和 VDA 19 要求。

?傳統(tǒng)的清潔度分析方法（重量法和光鏡法）只能提供清潔部件上大顆?；覊m和碎片的總體重量或形狀信息，而不能全面分辨顆粒的污染源。Phenom ParticleX 取代傳統(tǒng)顆粒物清潔度檢測方法，允許工程師看見微米尺寸的顆粒并確定其化學(xué)成分，從而判斷出污染源。

借助 Phenom ParticleX 全自動(dòng)清潔度分析系統(tǒng)，只需一鍵，即可自動(dòng)分析 4 片直徑 47mm 的濾膜，并且自動(dòng)生成報(bào)告，更有效率地監(jiān)控過程清潔度。

規(guī)格參數(shù)

光學(xué)放大	3 - 16 X
電子光學(xué)放大	80 - 200,000 X
分辨率	優(yōu)于 10 nm
數(shù)字放大	Max. 12 X
光學(xué)導(dǎo)航相機(jī)	彩色
加速電壓	4.8 Kv - 20.5 Kv 連續(xù)可調(diào)
真空模式	高分辨率模式降低核電效應(yīng)模式高真空模式
探測器	背散射電子探測器二次電子探測器 (選配)
樣品尺寸	最大 100 mm X 100 mm 可同時(shí)裝載 36 個(gè) 0.5 英寸樣品臺(tái)
樣品高度	zui高 65 mm，樣品高度全自動(dòng)調(diào)節(jié)