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Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀

銷售范圍售全國

入駐年限第10年

營業(yè)執(zhí)照已審核

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聯(lián)系方式：400-822-6768

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產(chǎn)品特點

Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀可針對平面光學(xué)元件反射率、透射率、偏振光、膜性、顏色等進行多角度快速測量。適用于棱鏡、平行平板、平晶、濾光片、紅外截止片等眾多類型光學(xué)元件參數(shù)測量。

Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀.jpg

Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀

儀器用于快速測量各類平面光學(xué)元件的反射、透射光譜，可進行多角度反射率、相對反射率、透射率測量、偏振光測量、膜性測量、顏色測量等。

儀器特點自定義多角度透反射測量

測量對象：

技術(shù)參數(shù)

型號	Planum-3000
探測器	Hamamatsu背照式CD陣列
檢測范圍	380-1100nm
波長分辨率	1nm
信噪比(全信號)	1000: 1
相對檢測誤差	<0.2%(410-900nm )
操作方式	自動
角度分辨率	<0.0002°
重復(fù)定位精度	<0.005°
旋轉(zhuǎn)速度上限	25%/s
透射測量角度	0-80°(小樣品0-50°)
反射測量角度	5-80°
單次測量時間量	<1s
S/P光測量	支持
樣品尺寸	>φ3mm
操作系統(tǒng)/接口	Windows7~Windows10/USB2.0
電源/功率	220V-5OHZ/100w
其它	可自定義打印報表格式，開放式光學(xué)材料數(shù)據(jù)庫