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IVEA微尺度元素分析 (LIBS 激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀)
- 品牌:法國IVEA
- 型號: MEEP2
- 產(chǎn)地:歐洲 法國
- 供應(yīng)商報價:面議
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艾頡熙貿(mào)易(上海)有限公司
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照
- 同類產(chǎn)品
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詳細介紹
LIBS技術(shù): 是Laser-Induced Breakdown Spectroscopy(激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀)的簡稱
LIBS原理:
LIBS使用脈沖激光聚焦到待測樣品表面,激光光束聚焦在樣品表面的光斑很?。ㄗ钚】勺龅?um的光斑直徑),在激光光斑照射區(qū)域中的材料被燒蝕剝離,從而產(chǎn)生高溫等離子體。等離子體冷卻的過程中會向外輻射元素的特征譜線。這些譜線被收集到光譜儀,然后利用探測到的特征譜線對樣品的元素化學(xué)成分進行定性或者定量分析
LIBS:快速分析盲樣中所有未知元素的**技術(shù),給樣品處理的客戶帶來極大便利。LIBS產(chǎn)品概述:
法國IVEA公司的zuixinLIBS產(chǎn)品MEEP是將激光與顯微鏡耦合,實現(xiàn)樣品微區(qū)分析,最小分析口徑可達到3-4微米。與傳統(tǒng)LIBS系統(tǒng)不同。同時該產(chǎn)品每次脈沖燒蝕深度0.5-1微米左右,LIBS通過控制激光脈沖數(shù)可實現(xiàn)不同深度元素成分分析。
MEEP與傳統(tǒng)分析儀器相比,最突出的優(yōu)點是:
- 燒蝕面積?。?/span>最小分析口徑可達到3-4微米
- LIBS分析與目視檢測的相結(jié)合: 方便用戶實時調(diào)整檢測位置
- LIBS與顯微鏡的相結(jié)合:對微小尺寸產(chǎn)品的檢測更容易操作
- LIBS無須樣品預(yù)處理:直接激光打在樣品上 。(傳統(tǒng)儀器需要萃取樣品,步驟復(fù)雜,時間長,容易二次污染等)- LIBS快速檢測:激光直接打在樣品上,解決了表面不平整不光滑等表面的檢測難題,幾秒鐘顯示分析結(jié)果。
- 266 nm 紫外激光源:266nm屬于紫外冷光源,不會對燒蝕面積邊緣產(chǎn)生熱化,更容易將燒蝕口徑控制更小更好
- LIBS配置帶有衰減器功能的光束整形:保證到達樣品表面的激光能量
- LIBS的探測系統(tǒng)可以自動溫控:這個對于系統(tǒng)檢測穩(wěn)定性起到非常重要的作用
- 分析所有元素:元素表上的元素基本都可以檢測- 多元素同時檢測:激光打在樣品上一次,就可以將200-950nm內(nèi)的所有元素一次探測出來。
- 檢測有機元素和最輕的幾個元素:包括H, Li, Na, Be, Mg等 (其他技術(shù)很難實現(xiàn))
MEEP 可以在微米尺度上做空間分辨的元素分析,這一功能填補了現(xiàn)有技術(shù)的空白
應(yīng)用領(lǐng)域:寶石、文物保護、塑料分類、油品、土壤、植物、巖石礦物、合金、煤粉等
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