產(chǎn)品亮點：

補充您的 SEM：使用電子探頭微分析儀的好處

• 用于 SEM 的 QUANTAX WDS由 XSense 波長分散光譜儀組成，在所有平行光束 WDS 系統(tǒng)中實現(xiàn)最 佳分辨率。與基于羅蘭圓的 WDS 光譜儀相比，QUANTAX WDS 由于平行光束設(shè)計，可以實現(xiàn)大固體角采集，為低能 X 射線提供更高的信號強度
  

• WDS 通過抑 制背底輻射的獨特二次光學(xué)器件進(jìn)一步增強信噪比

• QUANTAX WDS 配備最 好的掠入角光學(xué)元件和多達(dá)六個分析晶體，對 70 eV 以上的低能量 X 射線具有卓 越的靈敏度

• 巧妙的自動光學(xué)對準(zhǔn)系統(tǒng)和獨特的壓力控制比例計數(shù)器可確保準(zhǔn)確且可重復(fù)的結(jié)果

• 靈活適應(yīng) WDS 或 EDS 端口

• 解決常見的 EDS 峰值重疊，如 Ta-W-Si、Pb-S 或 Mo-S

• 探索感興趣的元素的低能 X 射線線系（L、M、N）

• 研究低加速電壓的樣品，確保電子束穿透深度最 小

• 獲得 最 高的 cps/nA，因為高固體角使輕元素在整個濃度范圍內(nèi)從 Be 到 F 進(jìn)行表征

• 得到遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于 EDS 檢測限值的痕量元素濃度

• 可以在低真空下測量，無需導(dǎo)電涂層

• 使用獨特的壓力控制比例計數(shù)器，節(jié)省分析測量時間

• 確保光譜數(shù)據(jù)的空間精度，進(jìn)行精確定量

• 通過同時進(jìn)行 WDS 和 EDS 分析，將每個探測器的優(yōu)勢整合到組合定量中，節(jié)省采集時間

您的分析挑戰(zhàn)是什么？

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