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德國布魯克電子顯微鏡分析儀器 SEM QUANTAX EDS

布魯克納米分析部更新時間：2025-01-21 11:52:31

銷售范圍售全國

入駐年限第3年

營業(yè)執(zhí)照

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聯(lián)系方式：010-58333171

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為您推薦

產(chǎn)品特點

XFlash? 7 - Z新 EDS 探頭系列
優(yōu)化的設(shè)計
更好的分析
快速、精準(zhǔn)、可靠

產(chǎn)品介紹：

1,000,000

cps

有效輸出計數(shù)可達(dá) 1,000,000 cps

無與倫比的分析速度

> 2,200 條元素譜線

包含所有 K，L，M 和 N 線系的全系原子數(shù)據(jù)庫，可以對復(fù)雜的數(shù)據(jù)進(jìn)行定量分析

> 1.1 sr

更大的采集立體角

優(yōu)化的幾何結(jié)構(gòu)，更快的采集速度，更高的測試效率

用于 SEM, FIB-SEM 和 EPMA 的能量分散譜儀

布魯克的最新一代 QUANTAX EDS XFlash? 7 能譜探頭具有最大的采集立體角 ( Solid Angle) 和更高的輸出計數(shù)率。
XFlash? 7 繼續(xù)引領(lǐng)掃描電子顯微鏡 (SEM) 、聚焦離子束 (FIB-SEM) 和電子探針 (EPMA) 上能譜分析的性能與功能的標(biāo)準(zhǔn)。
XFlash? 7 探頭還為 TEM 和 SEM 中可以透過電子的樣品提供了優(yōu)化的解決方案，此外，獨特的 XFlash? FlatQUAD 為一些高難度樣品提供了更好的解決辦法。
Slim-line 技術(shù)，大立體角設(shè)計，最新一代脈沖處理器，以及維護(hù)預(yù)警系統(tǒng)使系統(tǒng)運行時間達(dá)到最大化。
更好的能量分辨率和采譜性能。
精致的定量算法，獨特的有標(biāo)樣和無標(biāo)樣定量分析方法有效提高了分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。

高效的元素分析

每一套EDS系統(tǒng)都獨立進(jìn)行優(yōu)化，保證以更快的速度得到更精確的結(jié)果。
更大的輸出計數(shù)率使測量時間大大縮短，可以在任何條件下進(jìn)行定量和面分布分析而不再受數(shù)據(jù)量的困擾。
優(yōu)化的結(jié)構(gòu)設(shè)計，可以分析各種高難度的樣品。
優(yōu)化的設(shè)計降低了背底和吸收的影響，使定量結(jié)果更為準(zhǔn)確可靠。
更低的背底和吸收使檢測限更小，可以檢測到更低含量的元素。
一體化的 ESPRIT 軟件平臺將EDS, WDS, EBSD 和微區(qū)-XRF 無縫組合，成為一個綜合的分析平臺，可用于所有的 SEM, FIB-SEM 以及 EPMA。

SEM 元素分析在不同領(lǐng)域的應(yīng)用

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