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掃描電鏡-國儀量子鎢燈絲掃描電鏡 SEM3300

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產品特點

SEM3300 是全新一代鎢燈絲掃描電子顯微鏡,分辨率優(yōu)于2.5nm。特殊的電子光路設計,突破鎢燈絲分辨率極限,在低電壓 1 kV 下,達到 5 nm 的分辨率。

詳細介紹

鎢燈絲掃描電鏡
SEM3300

SEM3300 是全新一代鎢燈絲掃描電鏡,將高壓隧道技術(Super-Tunnel)、鏡筒內電子探測器、靜電電磁復合物鏡等技術,應用在鎢燈絲電鏡上,突破了鎢燈絲的分辨率極限,讓鎢燈絲電鏡也能完成一部分場發(fā)射電鏡才能完成的低電壓分析任務。

突破鎢燈絲
極限的分辨率
鏡筒內電子探測器
靜電電磁復合物鏡
使用更安全
豐富的拓展能力


應用案例

鉛鋅礦

加速電壓:20 kV / 放大倍率:X200

鐵礦石粉末

加速電壓:15 kV / 放大倍率:X500

球形石墨表面

加速電壓:3 kV / 放大倍率:X5000

三元前驅體2

加速電壓:15 kV / 放大倍率:X20000

磁電材料

加速電壓:15 kV / 放大倍率:X5000

芯片

加速電壓:15 kV / 放大倍率:X1000

高分子微球

加速電壓:5 kV / 放大倍率:X2000

靜電紡絲

加速電壓:5 kV / 放大倍率:X10000


產品參數(shù)

電子光學系統(tǒng)分辨率2.5 nm @ 15 kV,SE
4 nm @ 3 kV,SE
5 nm @ 1.0 kV,SE
放大倍率1 x~300,000 x
加速電壓 0.1 kV~30 kV
成像系統(tǒng)探測器倉室內二次電子探測器(ETD)、鏡筒內電子探測器(Inlens)
*背散射電子探測器BSED(五分割,可選配)、*能譜儀EDS、*背散射衍射(EBSD)
樣品室攝像頭光學導航
樣品倉內監(jiān)控
樣品臺行程X=125 mm,Y=125mm,Z=50mm
T 行程-10° ~+90°
R 行程360°
樣品臺配置五軸真空電機驅動
軟件語言中文
操作系統(tǒng)Windows
導航光學導航、手勢快捷導航、軌跡球(選配)
自動功能自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散
擴展選配樣品交換倉
旋鈕板 & 軌跡球



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