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德國布魯克 Dimension HPI原子力顯微鏡

品牌：德國布魯克
型號： Dimension HPI
產(chǎn)地：歐洲德國
供應(yīng)商報價：面議

布魯克納米表面儀器部更新時間：2023-08-07 11:56:12

銷售范圍售全國

入駐年限第5年

營業(yè)執(zhí)照已審核

同類產(chǎn)品掃描探針顯微鏡SPM (原子力顯微鏡）(23件)

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產(chǎn)品特點

高效的工業(yè)研發(fā)型AFM

詳細介紹

產(chǎn)品介紹：

Dimension HPI

Dimension HPI 系統(tǒng)專為大批量、大生產(chǎn)環(huán)境而設(shè)計，支持多種 AFM 模式進行自動化測量，具有簡單易用性，并能實現(xiàn)在質(zhì)量控制、質(zhì)量保證和失效分析中的最低檢測成本。Dimension HPI 使用接觸、輕敲和峰值力輕敲模式技術(shù)，使用戶能夠精確控制探針和樣品的相互作用力，從而延長探針壽命，并且在數(shù)千次測量中保持測量的準確性。

創(chuàng)新

峰值力攻絲

最小化探頭上的橫向力，以進行樣品保護、延長探針壽命和最一致的測量。

獨特

快速掃描 AFM 探頭

低成本測量，并保證最可靠的數(shù)據(jù)。

易于使用

自動化軟件

使每個用戶成為 AFM 專家，并確保操作員與操作員之間的一致性。

特征

廣泛的測量范圍

從傳統(tǒng)的AFM掃描模式到獨有的 PeakForce 峰值力模式，Dimension HPI 提供靈活的選項，可滿足各種樣品在特定制造工程中對測量的需求，而不受通常 AFM 用于研究時的設(shè)置復(fù)雜性的限制。

快速納米電氣計量

快速掃描技術(shù)和導(dǎo)電力顯微鏡（CAFM）結(jié)合可以在高掃描速率下測量納米級的電流，顯著提高失效分析的效率。FastScan HPI 利用峰值力輕敲模式下的磁力顯微鏡技術(shù)，可以在不影響磁力顯微鏡精度的情況下將掃描速度增大10倍。PeakForce KPFM?提供最高的空間分辨率和最精確的表面電位測量。PeakForceTUNA 提供靈敏的導(dǎo)電性測量。

精確的納米力學(xué)性能表征

布魯克獨特的 PeakForce QNM 和 FastForce Volume? 模式可以精確測量材料的力學(xué)性能 - 模量、剛度、粘附性、耗散和形變量，同時對樣品形貌和電學(xué)特性進行成像。PeakForce QNM 支持對聚合物、薄膜和納米缺陷進行非破壞性測量，這些缺陷無法通過TEM或SEM技術(shù)進行測量。