技術(shù)清潔

隨著對(duì)（汽車）行業(yè)中光學(xué)顯微鏡范圍之外的較小顆粒分析的需求不斷增長(zhǎng) ，Phenom ParticleX TC（技術(shù)清潔）Desktop SEM 可兼具自動(dòng)掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜 (EDS) 兩種優(yōu)勢(shì)。相比光學(xué)顯微鏡而言，這是一個(gè)主要優(yōu)勢(shì)，因?yàn)樗梢詫?duì)顆粒進(jìn)行化學(xué)分類，為您的生產(chǎn)工藝和/或環(huán)境提供卓 越的見(jiàn)解。提供符合 VDA 19 / ISO 16232  或 ISO 4406/4407 標(biāo)準(zhǔn)的報(bào)告。

二級(jí)電子檢測(cè)器

Phenom ParticleX TC（技術(shù)清潔度）Desktop SEM 可選配二級(jí)電子檢測(cè)器 (SED)。SED 從樣品的頂部表層收集低能量電子。因此，是揭示詳細(xì)樣品表面信息的理想選擇。SED 很適合拓?fù)浜托螒B(tài)很關(guān)鍵的應(yīng)用。在研究微結(jié)構(gòu)、纖維或顆粒時(shí)，這通常是如此。

一般 SEM 使用

Phenom desktop SEM 產(chǎn)品的用戶界面采用久經(jīng)考驗(yàn)的易用性技術(shù)。該界面使現(xiàn)有用戶和新用戶能夠以最少的培訓(xùn)迅速熟悉系統(tǒng)。 

元素繪圖和譜線掃描

用戶只需點(diǎn)擊即可使用 Phenom ParticleX TC（技術(shù)清潔度）Desktop SEM 的元素繪圖和線掃描功能。線掃描功能以線圖顯示量化的元素分布。