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賽默飛世爾掃描電子顯微鏡 Phenom particleX Steel Desktop SEM

品牌：賽默飛世爾
型號(hào)： Phenom particleX Steel Desktop
產(chǎn)地：美洲美國(guó)
供應(yīng)商報(bào)價(jià)：面議

賽默飛電子顯微鏡更新時(shí)間：2025-06-16 09:43:57

銷(xiāo)售范圍售全國(guó)

入駐年限第8年

營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核

同類(lèi)產(chǎn)品臺(tái)式掃描電鏡(9件)

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產(chǎn)品特點(diǎn)

臺(tái)式 SEM 通過(guò)故障分析和工藝改進(jìn)實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量鋼制造。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹：

鋼鐵制造業(yè)

鋼制造領(lǐng)域的冶金學(xué)家和研究人員需要借助掃描電子顯微鏡 (SEM)和能量色散 X 射線譜儀 (EDS)的數(shù)據(jù)用于失效分析和工藝改進(jìn)。 Thermo Scientific Phenom ParticleX Steel Desktop SEM 是一種多用途臺(tái)式 SEM，能夠?qū)︿撹F中的非金屬夾雜物進(jìn)行失效分析和自動(dòng)表征。

鋼鐵夾雜物分析

這種用于鋼樣品高質(zhì)量成像和元素分析的多功能解決方案提供了當(dāng)今高效生產(chǎn)高質(zhì)量鋼鐵所需的數(shù)據(jù)。快速、簡(jiǎn)單的分析使您能夠快速響應(yīng)客戶對(duì)缺陷、故障等的索賠，自動(dòng)化的鋼鐵夾雜物分析能夠幫助您深入了解煉鋼過(guò)程。

主要特點(diǎn)

占地面積小

Phenom ParticleX Steel Desktop SEM 僅需要標(biāo)準(zhǔn)壁式電源，無(wú)需更改基礎(chǔ)設(shè)施即可擴(kuò)展分析實(shí)驗(yàn)室的能力。集成的 EDS 使用戶能夠簡(jiǎn)單地通過(guò)單擊來(lái)使用元素映射和線掃描，它可以在線圖中顯示量化的元素分布。

易于使用

用戶界面基于成熟的易用技術(shù)Phenom Desktop SEM該界面使現(xiàn)有客戶和新客戶都可以通過(guò)最少的培訓(xùn)快速熟悉系統(tǒng)。獨(dú)特的 CeB6光源的高亮度有助于捕捉高圖像細(xì)節(jié)以及快速自動(dòng)分析鋼鐵夾雜物。

行業(yè)專(zhuān)用軟件

基于多年的鋼夾雜物分析經(jīng)驗(yàn)，默認(rèn)的分類(lèi)規(guī)則和分析配方使用戶能夠快速捕獲有價(jià)值的數(shù)據(jù)。

面向未來(lái)

雖然您可使用默認(rèn)分類(lèi)規(guī)則和分析配方快速開(kāi)始鋼鐵夾雜物分析，但分類(lèi)方法和分析菜單是完全可定制的。這使您可以在更新的配方中獲得新的見(jiàn)解

性能數(shù)據(jù)

電子光學(xué)放大率范圍	160 - 200,000x
光學(xué)放大率	3–16x
分辨率	<10 nm
圖像分辨率選項(xiàng)	960x600、1920x1200、3840x2400、7680x4800 像素
加速電壓	默認(rèn): 5 kV、10 kV 和 15 kV 高級(jí)模式：可在 4.8 kV 至 20.5 kV范圍內(nèi)調(diào)節(jié)成像與分析模式
真空水平	低 - 中 - 高
檢測(cè)器	背散射電子檢測(cè)器（標(biāo)配）能量色散型 X 射線光譜 (EDS) 檢測(cè)器（標(biāo)配）二級(jí)電子檢測(cè)器（可選）
樣品尺寸	最大 100x100 毫米（最大 36 x 12 毫米插針）最高 40 毫米（可選最高 65 毫米）
裝載樣品時(shí)間	光學(xué) <5 秒電子光學(xué) <60 秒