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Napson CRESBOX半自動四探針測試儀

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產(chǎn)品特點(diǎn)

CRESBOX半自動四探針測試儀可用于測試硅晶片及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電薄膜、金屬薄膜等材料的電阻率和方塊電阻。

詳細(xì)介紹

Napson CRESBOX半自動四探針測試儀

主要用途

CRESBOX半自動四探針測試儀可用于測試硅晶片及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電薄膜、金屬薄膜等材料的電阻率和方塊電阻。

特點(diǎn)

?? 具有圖譜軟件功能,可作二維、三維圖形;

?? 具有厚度/邊緣/溫度補(bǔ)償功能;

?? 全覆式暗箱測試清除測量環(huán)境干擾;

?? 內(nèi)含溫度傳感器

?? USB接口。


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