利用我們的高精度冷凍提取解決方案 Thermo Scientific EasyLift 微操作機(jī)械手,能夠靶向并提取您的目標(biāo)結(jié)構(gòu)。
-
-
賽默飛世爾 DUALBEAM FIB-SEM 顯微鏡 Aquilos 2 Cryo FIB
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號(hào): Aquilos 2 Cryo FIB
- 產(chǎn)地:美洲 美國
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
-
賽默飛電子顯微鏡
更新時(shí)間:2025-06-16 09:43:57
-
銷售范圍售全國
入駐年限第8年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品冷凍電鏡 (Cryo-EM)(15件)
立即掃碼咨詢
聯(lián)系方式:18621035632
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明在儀器網(wǎng)(www.sewtec.com.cn)上看到的!
掃 碼 分 享 -
為您推薦
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 具有延長運(yùn)行時(shí)間和增強(qiáng)自動(dòng)化的冷凍電鏡樣品制備工具。
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹:
Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo-FIB 是我們最 新一代的 cryo-DualBeam 系統(tǒng)。它專用于為高分辨率冷凍電子斷層掃描或微晶 MicroED 制備電子透明的薄片。
利用 Aquilos 2 Cryo-FIB,您可以憑借自動(dòng)化工作流程步驟向前邁出革命性的一步,從特定程序化位置產(chǎn)生多個(gè)減薄的樣品區(qū)域。經(jīng)過改進(jìn)的專用冷凍硬件有助于延長運(yùn)行時(shí)間,且污染率極低。了解我們最 新的 cryo-FIB 平臺(tái)如何確定細(xì)胞內(nèi)部的結(jié)構(gòu)。
生物分子在其細(xì)胞環(huán)境內(nèi)的斷層掃描需要用 cryo-FIB 進(jìn)行高準(zhǔn)確度的樣品制備,這可以使用來自集成熒光顯微鏡檢查的信息來實(shí)現(xiàn)。現(xiàn)在可用于 Aquilos 2 Cryo-FIB 的 Thermo Scientific iFLM 相關(guān)系統(tǒng)將光和電子顯微術(shù)結(jié)合在一個(gè)系統(tǒng)中。這避免了額外的樣品轉(zhuǎn)移步驟,并使您能夠?yàn)槔鋬鰯鄬訏呙鑴?chuàng)建一個(gè)更精簡的冷凍相關(guān)解決方案。iFLM(集成熒光顯微鏡)相關(guān)系統(tǒng)將熒光靶標(biāo)定位在腔室內(nèi),讓您可以在一個(gè)系統(tǒng)內(nèi)關(guān)聯(lián)兩種成像模式,從而確保樣品位于正確的位置。
用 Aquilos 2 Cryo-FIB 制備的冷凍薄片(左)。掃描電鏡圖像與使用 iFLM 相關(guān)系統(tǒng)獲得的熒光圖像的疊加(右)。配備 iFLM 相關(guān)系統(tǒng)的 Aquilos 2 Cryo-FIB。優(yōu)勢
自動(dòng)化
過夜運(yùn)行系統(tǒng),可以利用 Thermo Scientific AutoTEM 軟件自動(dòng)生產(chǎn)多個(gè)減薄的樣品區(qū)域。冷凍提取
3D 可視化
使用荷電襯度查看表面下的天然亞細(xì)胞結(jié)構(gòu),并使用 Thermo Scientific Auto Slice and View 軟件鑒別冷凍透射電鏡中的高分辨率斷層掃描的特征。
延長運(yùn)行時(shí)間
即使是過夜運(yùn)行,您的樣品也能保持在玻璃化溫度。冷凍硬件和可全向旋轉(zhuǎn)的冷凍載物臺(tái)保護(hù)冷凍樣品免受污染,并確保它們?cè)趯?shí)驗(yàn)期間保持玻璃化狀態(tài)。
性能數(shù)據(jù)
電子光學(xué)系統(tǒng) 加速電壓范圍: 200 V – 30 kV 電子束電流范圍: 1.5 pA 至 400 nA 分辨率(使用冷凍載物臺(tái)): 在 30 kV 時(shí)為 1.6 nm,2 kV(室溫下)時(shí)為 2.6 nm,2kV(在冷凍溫度下)時(shí)為 6.0 nm* 分辨率(使用冷凍載物臺(tái)): 30 kV 時(shí) 7.0 nm 離子光學(xué)系統(tǒng) 離子源壽命: 1300 小時(shí) 電壓: 500 V 至 30 kV 電子束電流: 1.5 pA – 65 nA,分 15 檔 分辨率(使用冷凍載物臺(tái)): 30 kV 時(shí) 7.0 nm 冷凍載物臺(tái) 在低溫下的旋轉(zhuǎn)角度(共心工作距離): -15° 至 +55° XY 范圍: 110 mm Z 范圍: 65 mm 旋轉(zhuǎn): 360°(無限) 冷卻時(shí)間: <20 分鐘 真空系統(tǒng) 室溫下的腔室真空度: <4e–4Pa 冷凍條件下的腔室真空度: <8e–5Pa 技術(shù)資料
您可能感興趣的產(chǎn)品
-
賽默飛世爾 DUALBEAM FIB-SEM 顯微鏡 Aquilos 2 Cryo FIB
-
賽默飛世爾 DUALBEAM FIB-SEM 顯微鏡 Aquilos 2 Cryo FIB
-
賽默飛世爾 DUALBEAM FIB-SEM 顯微鏡
-
賽默飛世爾 DUALBEAM FIB-SEM 顯微鏡
-
賽默飛世爾 DUALBEAM FIB-SEM 顯微鏡 Helios 5 EXL DualBeam
-
賽默飛世爾 DUALBEAM 顯微鏡 Scios 2 DualBeam
-
賽默飛世爾 DUALBEAM 顯微鏡 Helios 5 DualBeam
-
賽默飛世爾 DUALBEAM 顯微鏡 Helios 5 Hydra DualBeam
-
賽默飛世爾 DUALBEAM 顯微鏡 Helios 5 PFIB DualBeam
-
賽默飛世爾 DUALBEAM 顯微鏡 Helios 5 Hydra DualBeam
-
美國賽默飛 Scios 2 DualBeam FIB雙束電鏡
-
賽默飛世爾 Helios DualBeam?掃描電子顯微鏡