-
-
賽默飛世爾 DUALBEAM 顯微鏡 Helios 5 Hydra DualBeam
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號(hào): Helios 5 Hydra Du
- 產(chǎn)地:美洲 美國(guó)
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
-
賽默飛電子顯微鏡
更新時(shí)間:2025-06-16 09:43:57
-
銷售范圍售全國(guó)
入駐年限第8年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品FIB-SEM DualBeam(10件)
立即掃碼咨詢
聯(lián)系方式:18621035632
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明在儀器網(wǎng)(www.sewtec.com.cn)上看到的!
掃 碼 分 享 -
為您推薦
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 具有多個(gè)離子種類、適用于 3D EM 和 TEM 樣品制備的等離子聚焦離子束掃描電子顯微鏡檢查。
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹:
Thermo Scientific Helios 5 Hydra DualBeam(等離子聚焦離子束掃描電子顯微鏡,簡(jiǎn)稱 PFIB-SEM)可以提供四種不同的離子種類作為主離子束,讓您可以選擇能為樣品和用例(如掃描透射電子顯微鏡 [STEM] 和透射電子顯微鏡 [TEM] 樣品制備和 3D 材料表征)提供最 佳結(jié)果的離子。
您可以在不到十分鐘的時(shí)間里輕松地在氬、氮、氧和氙之間切換而不會(huì)犧牲性能。 這種前所未有的靈活性極大地?cái)U(kuò)展了 PFIB 的潛在應(yīng)用領(lǐng)域,并可實(shí)現(xiàn)通過研究離子-樣品相互作用來優(yōu)化現(xiàn)有用例。
Helios 5 Hydra DualBeam 將創(chuàng)新的新型多離子種類等離子 FIB (PFIB) 柱與單色 Thermo Scientific Elstar UC+ SEM 色譜柱相結(jié)合,提供先進(jìn)的聚焦離子和電子束性能。直觀的軟件和前所未有的自動(dòng)化水平和易用性可以觀察和分析相關(guān)的亞表面體積信息。
適用于材料科學(xué)的 Helios 5 Hydra DualBeam使用 STEM 或 TEM 進(jìn)行高分辨率材料分析時(shí),高質(zhì)量的樣品制備是成功的關(guān)鍵因素。此外,它也被視為材料表征實(shí)驗(yàn)室中最 具挑戰(zhàn)性和最耗時(shí)的任務(wù)之一。用于制備 S/TEM 所需的超薄樣品的傳統(tǒng)方法非常耗時(shí),可能需要經(jīng)過大量培訓(xùn)的人員付出數(shù)小時(shí)甚至數(shù)天的努力。各種不同的材料以及現(xiàn)場(chǎng)的特定需求使這一過程更加復(fù)雜化。等離子 FIB 結(jié)合專有和創(chuàng)新軟件來實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化和易用性,解決了許多上述挑戰(zhàn)。
例如,氙等離子 FIB 是無鎵樣品制備的標(biāo)準(zhǔn),對(duì)敏感樣品(如含鋁材料)至關(guān)重要。Helios 5 Hydra DualBeam 所有四個(gè)離子束種類之間快速切換的新增功能更進(jìn)一步,可滿足每種單獨(dú)材料的需求,使您可以找到理想的條件來制備可能的最 高質(zhì)量樣品。
適用于生命科學(xué)的 Helios 5 Hydra DualBeamHelios 5 Hydra DualBeam 通過結(jié)合高通量等離子技術(shù)和高分辨率 FIB-SEM 斷層掃描,開啟了未經(jīng)探索的全新生命科學(xué)應(yīng)用領(lǐng)域。由于采用具有四個(gè)離子種類的最 先進(jìn)電感耦合等離子體 (ICP) FIB,可為每種樣品使用最 佳離子束。無論制備方法或樹脂類型如何,都可為每個(gè)樣品實(shí)現(xiàn)出色的表面質(zhì)量。除了更高的銑削通量和樣品兼容性外,先進(jìn)的軟件套件還有助于實(shí)現(xiàn)一致、高質(zhì)量、無 Ga 的大容量采集和 3D 數(shù)據(jù)分析。
對(duì)于生命科學(xué)研究,Helios Hydra DualBeam 提供:無偽影銑削,無論樣品制備方法如何
可達(dá)到 Ga-FIB 銑削量 10 倍的快速高效銑削
全自動(dòng) 3D 數(shù)據(jù)采集,結(jié)合 Auto Slice & View 軟件,可實(shí)現(xiàn)更高通量
使用旋轉(zhuǎn)銑削,可對(duì)大型水平表面(直徑不超過 1 mm)進(jìn)行納米厚度連續(xù)切片
一種適合多用戶環(huán)境的多功能解決方案,兼容多種樣品和實(shí)驗(yàn)問題
氧等離子 FIB 與所有常見的樹脂和樣品制備方案兼容,甚至能夠提供卓 越的數(shù)據(jù)采集效率和圖像質(zhì)量。在我們的應(yīng)用指南中閱讀更多內(nèi)容:“嵌入丙烯酸和環(huán)氧樹脂的小鼠腦組織 3D 體積成像” ?
通過對(duì)莫納什大學(xué)的 Alex de Marco 教授的訪談 ?,了解其他生命科學(xué)研究人員如何利用 Helios Hydra DualBeam 來推動(dòng)他們的研究
小鼠海馬體器官型腦片培養(yǎng)的 3D 重建。圖像承蒙約翰霍普金斯大學(xué) S. Watanabe 提供。
主要特點(diǎn)
應(yīng)用空間廣泛
獨(dú)特離子源可提供以下四種快速、可切換離子種類,應(yīng)用空間最為廣泛:Xe、Ar、O、N
高通量和高質(zhì)量
使用下一代 2.5 μA 等離子 FIB 色譜柱進(jìn)行高通量、高質(zhì)量和統(tǒng)計(jì)學(xué)相關(guān)的 3D 表征、交叉切片和微加工。
先進(jìn)的自動(dòng)化
使用選配的 AutoTEM 5 軟件,以最快速輕松的方式實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化多點(diǎn)原位和非原位 TEM 樣品制備以及交叉切片
高質(zhì)量樣品制備
由于采用新型 PFIB 色譜柱,可實(shí)現(xiàn) 500 V 最 終拋光以及在所有操作條件下均可提供出色的性能,可以用氙、氬或氧進(jìn)行高質(zhì)量無鎵 TEM 和 APT 樣品制備。
納米級(jí)實(shí)現(xiàn)周期短
借助 SmartAlign 和 FLASH 技術(shù),任何經(jīng)驗(yàn)水平的用戶都可以最 短時(shí)間獲得納米級(jí)信息
完整的樣品信息
可通過多達(dá)六個(gè)集成在色譜柱內(nèi)和透鏡下的集成探頭獲得清晰、精確且無電荷對(duì)比度的最完整的樣品信息
電子和離子束誘導(dǎo)沉積和蝕刻
通過選配的 Thermo Scientific MultiChem 或 GIS 氣輸送系統(tǒng),在 DualBeam 系統(tǒng)上實(shí)現(xiàn)最 先進(jìn)的電子和離子束誘導(dǎo)沉積和蝕刻功能。
精確的樣品導(dǎo)航
借助 150 mm 壓電載物臺(tái)的高穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性或 110 mm 載物臺(tái)的靈活性以及選配的腔室內(nèi) Thermo Scientific Nav-Cam 攝像機(jī),可根據(jù)具體應(yīng)用需求進(jìn)行定制。
無偽影成像
基于集成的樣品清潔度管理和專用成像模式,例如 SmartScan 和 DCFI 模式
性能數(shù)據(jù)
Helios 5 Hydra CX DualBeam Helios 5 Hydra UX DualBeam 電子束分辨率 在最 佳 WD:
1 kV 時(shí) 0.7 nm
500 V (ICD) 時(shí) 1.0 nm
在重合點(diǎn):
15 kV 時(shí) 0.6 nm
1 kV 時(shí) 1.2 nm
電子束參數(shù)空間 電子束電流范圍:在所有加速電壓下 0.8 pA 至 100 nA
加速電壓范圍:350 V – 30 kV
著陸能量范圍:20* eV – 30 keV
最 大水平射野寬度:4 mm WD 時(shí) 2.3 mm
離子光學(xué)系統(tǒng) 高性能 PFIB 色譜柱,具有獨(dú)特的電感耦合等離子 (ICP) 源,支持四種離子種類,并具有快速切換能力
離子種類(初級(jí)離子束):Xe、Ar、O、N
切換時(shí)間 <10 分鐘,僅需軟件操作
離子束電流范圍:1.5 pA 至 2.5 μA
加速電壓范圍:500V – 30 kV
最 大 水平射野寬度:在等離子束重合點(diǎn)處為 0.9 mm
重合點(diǎn)時(shí)的氙離子束分辨率
<使用首 選統(tǒng)計(jì)方法在 30 kV 時(shí)為 20 nm
使用選擇性邊緣方法在 30 kV 時(shí) <10 nm
腔室 在分析 WD 時(shí)的 E 和 I 束重合點(diǎn) (4 mm SEM)
端口:21
內(nèi)部寬度:379 mm
集成式等離子清潔器
探頭 Elstar 色譜柱鏡筒內(nèi) SE/BSE 探頭(TLD-SE、TLD-BSE)
Elstar 色譜柱柱內(nèi) SE/BSE 探頭 (ICD)*
Everhart-Thornley SE 檢測(cè)器 (ETD)
查看樣品/色譜柱的 IR 攝像機(jī)
用于二級(jí)離子 (SI) 和二級(jí)電子 (SE) 的高性能腔室內(nèi)電子和離子探頭 (ICE)
腔室內(nèi) Nav-Cam 樣品導(dǎo)航攝像機(jī)*
可伸縮、低電壓、高對(duì)比度、定向、固態(tài)反向散射電子探頭 (DBS)*
集成的等離子束電流測(cè)量
載物臺(tái)和樣品 靈活的五軸電動(dòng)載物臺(tái):
XY 范圍:110 mm
Z 范圍:65 mm
旋轉(zhuǎn):360°(無限)
傾斜范圍:-38° 至 +90°
XY 重復(fù)性:3 μm
最 大樣品高度:與共心點(diǎn)間距 85 mm
0° 傾斜時(shí)的最 大樣品重量:5 kg(包括樣品架)
最 大樣品尺寸:完全旋轉(zhuǎn)時(shí) 110 mm(也可以是更大的樣品,但旋轉(zhuǎn)有限)
計(jì)算中心旋轉(zhuǎn)和傾斜
高精度五軸電動(dòng)載物臺(tái),配有壓電驅(qū)動(dòng)的 XYR 軸
XY 范圍:150 mm
Z 范圍:10 mm
旋轉(zhuǎn):360°(無限)
傾斜范圍:-38° 至 +60°
XY 重復(fù)性:1 μm
最 大樣品高度:與共心點(diǎn)間距 55 mm
0° 傾斜時(shí)的最 大樣品重量:500 g(包括樣品架)
最 大樣品尺寸:完全旋轉(zhuǎn)時(shí) 150 mm(也可以是更大的樣品,但旋轉(zhuǎn)有限)
計(jì)算中心旋轉(zhuǎn)和傾斜
* 可選配,取決于配置
技術(shù)資料
您可能感興趣的產(chǎn)品
-
賽默飛世爾 DUALBEAM 顯微鏡 Helios 5 Hydra DualBeam
-
賽默飛世爾 DUALBEAM 顯微鏡 Helios 5 Hydra DualBeam
-
賽默飛世爾 DUALBEAM 顯微鏡 Helios 5 DualBeam
-
賽默飛世爾 DUALBEAM 顯微鏡 Helios 5 PFIB DualBeam
-
賽默飛世爾 DUALBEAM FIB-SEM 顯微鏡 Helios 5 EXL DualBeam
-
賽默飛世爾 DUALBEAM 顯微鏡 Scios 2 DualBeam
-
賽默飛世爾 Helios DualBeam?掃描電子顯微鏡
-
賽默飛世爾 DUALBEAM FIB-SEM 顯微鏡
-
賽默飛世爾 DUALBEAM FIB-SEM 顯微鏡
-
美國(guó)賽默飛 Helios 5 DualBeam FIB雙束電鏡
-
賽默飛世爾 DUALBEAM FIB-SEM 顯微鏡 Aquilos 2 Cryo FIB
-
賽默飛世爾 DUALBEAM FIB-SEM 顯微鏡 Aquilos 2 Cryo FIB