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掃描探針顯微鏡SPM-9700HT

銷售范圍售全國

入駐年限第10年

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詳細介紹

探知未來
原子力顯微鏡（AFM）是在樣品表面用微小的探針進行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700HT更是性能高、速度快、操作簡單的新一代掃描探針顯微鏡。

新開發(fā)的可快速響應的HT掃描器加之軟件與控制系統(tǒng)設計的優(yōu)化，成功實現(xiàn)掃描速度比傳統(tǒng)設備快5倍以上。

獨具匠心的探針更換夾具，讓小心翼翼的探針更換操作變得簡捷輕松。

樣品交換時也可保持激光穩(wěn)定照射懸臂。照射穩(wěn)定性優(yōu)異，分析時間也大幅度縮短。

可從不同角度放大拉伸圖像進行確認。鼠標操作簡單，更可進行3D斷面形狀分析。

按照操作指南指導操作順序，使用導航功能直接鎖定觀察位置，實現(xiàn)了SPM的快速簡便的觀察

具備豐富的測定模式和優(yōu)異的擴展性，可對不同硬度、不同導電性能等各式樣品進行觀察分析。

控制氣氛掃描探針顯微鏡 WET-SPM
可以控制樣品和周邊環(huán)境，在可控氣氛下進行樣品處理，并直接進行SPM觀察。

選配系統(tǒng)具有溫度濕度控制單元、樣品加熱冷卻單元、樣品加熱單元、吹起單元。

粒度分析軟件
從圖像數(shù)據(jù)中選取復數(shù)顆粒，對每一顆粒進行特征量的計算，并進行分析、顯示，以及及進行統(tǒng)計處理。

微小部熱分析試驗儀器復合型SPM系統(tǒng) SPM+nano-TA2（nano-TA2為Anasys Instruments公司產(chǎn)品）可以進行樣品表面的三維形貌觀察和點的熱分析。

觀察模式	標準	接觸模式動態(tài)模式相位模式水平力模式（LFM）力調(diào)制模式矢量掃描模式
觀察模式	選購件	磁力（MFM）模式）電流模式表面電位（KFM）模式
分辨率	XY	0.2 nm
分辨率	Z	0.01 nm
AFM頭部	位移監(jiān)測系統(tǒng)	光源/光杠桿/檢測器
	光源	激光二極管（On/Off均可）更換樣品無需調(diào)整光路
	檢測器	光敏二極管
掃描器	驅(qū)動元件	管狀壓電元件
掃描器	最大掃描范圍（XYZ）	30μm×30μm×5μm?。藴剩?br style="box-sizing: border-box;">125μm×125μm×7μm?。ㄟx購） 55μm×55μm×13μm?。ㄟx購） 2.5μm×2.5μm×0.3μm　（選購）
樣品臺	最大樣品形狀	φ24mm×8mm
	樣品裝載方式	頭部滑動機構懸臂安裝狀態(tài)下可直接裝載樣品
	樣品固定方式	磁性固定
Z軸驅(qū)動機構	驅(qū)近方式	全自動驅(qū)近
Z軸驅(qū)動機構	最大可驅(qū)近范圍	10mm
信號顯示板	顯示量	檢測器的總?cè)肷涔饬浚〝?shù)字顯示）
減震機構	減震臺	SPM單元內(nèi)置
光學顯微鏡觀察	方式	分束器滑動機構
專用風擋	方式	無需或者使用氣氛控制腔體
氣氛控制	方式	無需改造SPM單元可直接導入氣氛腔體